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陕西博微电通科技有限责任公司


  • 博微BOWEI半导体光耦晶振压敏综合测试系统

    详细摘要: BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统,经我公司产品升级与开发,目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件...

    产品型号:BW-4022C所在地:西安市更新时间:2025-03-20 在线留言

  • 浪涌电流测试仪

    详细摘要: 可用于各类二管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌电流(IFSM)试验,包括三管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二管的浪涌测试。...

    产品型号:BW-IFSM/ITSM所在地:西安市更新时间:2025-03-20 在线留言

  • 博微BOWEI雪崩耐量测试系统

    详细摘要: 雪崩能量测试台,是针对半导体器件 IGBT、二极管、MOS 等设计的测试设备 仪器,对于那些在应用过程中功率器件两端所产生较大的尖峰电压,就要考虑 器件的雪崩能...

    产品型号:BW-UIS-3500所在地:西安市更新时间:2025-03-20 在线留言

  • 博微BW-半导体温度循环实验系统

    详细摘要: BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计,保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保...

    产品型号:BW-AH-5520所在地:西安市更新时间:2024-11-07 在线留言

  • 博微BOWEI-高精度半导体分立器件测试系统

    详细摘要: BW-4022A 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进...

    产品型号:BW-4022A所在地:西安市更新时间:2024-08-29 在线留言

  • 博微BOWEI-便捷式晶体管直流参数测试仪

    详细摘要: BWDT-3022A 型晶体管直流参数测试仪可测试三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、整流二极管、三端肖特基整流器、三端电压稳压器和基准器 TL431,为...

    产品型号:BW-3022A所在地:西安市更新时间:2024-08-29 在线留言

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