半导体分立器件测试系统,半导体分立器件测试系统价格|报价-陕西博微电通科技有限责任公司

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博微BOWEI半导体光耦晶振压敏综合测试系统

详细摘要： BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件...
产品型号：BW-4022C所在地：西安市更新时间：2025-03-20 在线留言
博微BOWEI-高精度半导体分立器件测试系统

详细摘要： BW-4022A 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进...
产品型号：BW-4022A所在地：西安市更新时间：2024-08-29 在线留言
博微BOWEI-便捷式晶体管直流参数测试仪

详细摘要： BWDT-3022A 型晶体管直流参数测试仪可测试三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、整流二极管、三端肖特基整流器、三端电压稳压器和基准器 TL431,为...
产品型号：BW-3022A所在地：西安市更新时间：2024-08-29 在线留言