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INF25-LP盖板干涉仪

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  • 型号 INF25-LP
  • 品牌
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 成都市

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更新时间:2022-08-26 16:30:41浏览次数:611

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产品简介

INF25-LP盖板干涉仪产品型号:INF25-LP主要用于手机盖板、晶体、平行平板等双面抛光元件的透射及反射面型测试!

详细介绍

  • 特点
  • 用途
  • 技术参数

1.快速检测,测试时间短;

2.可接入自动化生产线;

3.适应多种测试。

手机盖板、平板玻璃等元件的透射面型检测;

小口径平面光学元件的面型测试。

测量方式:斐索干涉原理

通光口径:Φ12mm/Φ25mm

测试波长:635nm(半导体激光器)

对准方式:两点对准

对准视场:±2°

平面标准镜:材料:石英;面型精度PV:λ/20

相移解相方式:机械相移解相


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