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详细介绍
- 特点：
- 用途：
- 技术参数：
结构紧凑，小型化，防尘效果好
平面光学元件表面面型测量
测量方式：菲索干涉原理
通光口径：Φ60mm
测试波长：635nm(半导体激光器)
对准方式：简单两点对准
对准视场：±0.5度
平面标准镜精度：PV：λ/20
| 成都太科光电技术有限责任公司 |
| 参考价 | 面议 |
更新时间：2022-08-26 16:27:07浏览次数：992
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结构紧凑，小型化，防尘效果好
平面光学元件表面面型测量
测量方式：菲索干涉原理
通光口径：Φ60mm
测试波长：635nm(半导体激光器)
对准方式：简单两点对准
对准视场：±0.5度
平面标准镜精度：PV：λ/20
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