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原子力显微镜AFM是利用测量探针与样品之间的作用力，进行纳米级的*高精度扫描分析。除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。扫描范围从20um×20um到80um×80um。可应用于半导体行业、汽车制造、皮革
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