同時對LED進行熱，光和電特性分析

HLMS-200P光度計是一種易於使用的精密光度計，設計用於戶外，實驗室或生產線

LED製造商和燈具設計師需要一種快速，便攜式的設備來進行完整的光譜通量分析

對於LED元件、光源的發展研製、估算及光學設計來說，準確的LED模型效能是必須的，可透過低成本的方式來選擇元件、發光效率的設計及品質控制等應用

圖像傳感器QE和光譜響應度表徵Spectra-QT量子可調輻照度/輻照度校準源Labsphere的Spectra-QT量子可調輻照度/輻照度校準源可在矽基光學傳...

高分辨率光譜均勻光源Spectra-UT可調光譜校正源基於我們在固態可調較正光源方面的經驗，Spectra-UT可調光譜校準光源使用連續光譜光源和多色儀技術，對...

色溫2800K~7500K的固態平場均勻光源Spectra-CT顏色可調光譜校準源省錢又省空間

寬視野範圍內高度均勻的照明7.5cm直徑端口可在360°x200°視野範圍內以高度均勻的照明進行測試和校準

高動態範圍測試和校準光源Spectra-PT功率可調光譜校準光源一個出色的統一均勻光源系統，用於簡單的相機和傳感器測試

LabsphereUV-2000S紫外線分析儀(SPF分析儀)快速測量SPF防曬霜樣品在250–450nm紫外線波長範圍內的漫透射率

照度計推薦-掌上型-MK350S掌上型照度計MK350S掌上型光波動頻率測試計(HandheldLightwavemeter):部同時具備分光光譜資料與影像式照...

M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求

橢偏儀theta-SE多點量測橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀

橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A.Woollam橢偏儀產品中

利用反射原理推算膜厚，完整的軟體資料，內建500種以上材料數據供比對

MProbe 20系列非破壞性反射式膜厚儀

MProbeHC是一個完整量測薄膜上硬鍍層的平面或曲面系統

VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體

J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統非接觸式膜厚量測，垂直擺放樣品，移動精度高，量測角度從15-90度，可進一步量測樣品...

干涉式膜厚儀-使用光進行非接觸式厚度測量Bristol膜厚儀使用光的特性來精確測量透明、半透明和一些不透明材料的厚度