新產品！BeamPeek™高功率雷射束分析和功率測量系統BeamPeek™系統可以同時對(3D列印)積層製造(AM)雷射進行光束分析、焦...

SP920s光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長，在1070nm的響應要優於其他所有相機

SP932U光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長

FemtoEasyMS-ROC多發式自相干儀，藉由二倍頻產生之技術，使得此相干儀在高穩定量測品質的同時也能保有極為緊湊的機身，特別適合量測sub-nJperpu...

FemtoEasyROC單發式自相干儀，有著極為緊湊且堅固的機身，並能針對LASERsingleshot做量測，且無須另外校正，能針對不同波長、不同pulsed...

FemtoEasyµ-ROC(RowOpticalCorrelator)單發式自相干儀，有著極為緊湊且堅固的機身，並植基於ROC的量測原理而可適用在...

狹縫掃描式光束輪廓分析儀：矽探測器，9mm毫米，5µm狹縫NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1100...

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測器，3.5mm狹縫，1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1...

BeamSquared®系統是一款緊湊型全自動工具，用於測量從紫外到近紅外直至電信波長的連續波和脈衝激光系統的傳播特性

Ophir寬光束成像儀配件是一種緊湊的，經過校準的光學系統，用於測量VCSEL，LED，邊緣發射的大光束和發散光束的尺寸和功率分佈雷射和光纖雷射

BeamWatchAM是一種整合雷射測量系統，設計用於測量雷射增材製造系統的關鍵激光束參數

Pyrocam相機通過其寬帶陣列精確捕獲和分析13nm-355nm和1.06-3000µm的波長

BeamWatch是一項過去技術，可以量測kW以上超高功率雷射之聚焦點大小與焦距的新產品，您現在可以輕易且經常性監控您的YAG雷射或光纖雷射光束，不再需要關機或...

Pyrocam相機通過其寬帶陣列精確捕獲和分析13nm-355nm和1.06-3000µm的波長

XevaXC-130相機精確捕獲和分析900nm-1700nm的波長

SP1203相機可精確捕捉並分析900nm至1700nm的波長

SP1201相機可精確捕捉並分析900nm至1700nm的波長

LT665-1550相機精確捕獲和分析1440nm-1605nm的波長

SP907鍍磷相機精確捕獲和分析1440nm-1605nm的波長

SP928鍍磷相機精確捕獲和分析1440nm-1605nm的波長