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OCI-V光矢量分析系统
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  • 武汉市 所在地

访问次数:316更新时间:2022-09-16 15:55:37

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马小姐

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产品简介
产地 国产 售后保修期 12个月
销售区域 全国
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用*的光路设计以及*算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
产品介绍

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用*的光路设计以及*算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。


产品特点:

  • 自校准

  • 测量长度:200m

  • 波段:C+L、O波段(可选)

  • 1秒内测量多种光学参数


主要应用:

  • 平面波导器件

  • 平面波导器件

  • 硅光器件

  • 光纤器件

  • 波长可调器件、放大器、滤波器

测量参数:

  • 偏振相关损耗PDL

  • 偏振模色散PMD

  • 插损IL

  • 群延时GD

  • 色散CD

  • 琼斯矩阵参数

  • 光学相位


参数:

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