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产品简介
产地 | 国产 | 售后保修期 | 12个月 |
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销售区域 | 全国 |
产品介绍
OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点,可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m,精度可达毫米量级,空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析,品质监测及故障诊断。
产品特点:
空间分辨率:20μm
测量长度:20m
中心波长:1550nm
插损、回损分析
主要应用:
无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
参数:
备注:
1.OCI-T测量长度为20m ,后续支持升级至100m 。
2.空间分辨率为20μm,后续支持升级至10μm。
3.插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的单向损耗。