OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点,可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m,精度可达毫米量级,空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析,品质监测及故障诊断。
产品特点:
空间分辨率:20μm
测量长度:20m
中心波长:1550nm
插损、回损分析
主要应用:
无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
参数:
备注:
武汉东隆科技有限公司(以下简称“东隆科技”)创立于1997年,坐落于武汉·中国光谷的核心区。东隆科技主要合作厂商包括:德国PicoQuant、Primes,法国Thales,美国Coherent、Quantum Opus、Wasatch Photonics、IPG,日本NEL、QD Laser、SIGMA KOKI 等多家国际厂商。产品涵盖教学、科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光诊断、光通信测量、单光子计数、气体传感、超快激光系统等光学应用领域。东隆科技一贯秉持“服务创造未来”的宗旨,为我们的客户提供迅捷的高品质服务,倍受广大客户信赖。我们同各个厂商建立了全面深入的合作关系,并联合成立技术服务中心。经过二十多年的发展,我们拥有一批专业的技术人才,能够针对客户需求提供高品质的产品及专业的解决方案,满足客户的应用需求。
产地 | 国产 | 售后保修期 | 12个月 |
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销售区域 | 全国 |
OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点,可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m,精度可达毫米量级,空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析,品质监测及故障诊断。
产品特点:
空间分辨率:20μm
测量长度:20m
中心波长:1550nm
插损、回损分析
主要应用:
无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
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