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增强型白光干涉仪使用说明书下载

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公司名称昆山拓尔精密仪器有限公司
品牌
型号1202
所在地
厂商性质经销商
更新时间 2021-11-27
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公司介绍主营产品

昆山拓尔精密仪器有限公司是一家专业从事精密光学测量仪器代理销售和售后一体化的高科技公司。公司以实践经验丰富的管理团队、销售团队和售后技术团队等精英为坚强后盾，以责任、尊重、进取为创业基础，并辅以便捷、专业、实惠的服务理念，已赢得众多客户的信任和支持。我们以热忱的心情迎接每一位新老客户，以专业的技能提供性价比的测量方案。产品除供国内以外，还出口美国、韩国、日本、越南、新加坡等地区。

主要产品有：瑞士TESA海克斯康、德国凯狮、日本尼康、三丰、中国台湾敏通、中国台湾万濠自主品牌的产品：三坐标测量仪、测量投影仪、影像测量仪、工具显微镜、机床PLC光栅尺、数显表、实体光学显微镜和监控摄像机等产品。这些产品广泛应用于机械、电子、塑胶、五金冲压、模具、仪表、汽车、航空行业和大专院校。

公司拥有十年以上的销售和维修各类测量仪器和光学仪器的专业工程师：销售方面针对贵公司所需仪器提供优质方案；维修方面可确保您的机器良好工作运行；并免费提供技术咨询、仪器改装方案和软件升级服务。维修价格合理，服务周到贴心。欢迎来电及莅临我公司参观、指导。

企业文化及经营理念：

质量是企业的生命，热忱服务是我们的宗旨，合理的价格是我们追求的目标。同时坚持顾客就是上帝的原则，在技术上精益求精，不断提高技术水准，努力为客户提供高质量的产品，为客户争取的效益。

公司质量方针:

诚信为本，质量是根，服务用心，创新不息，共创美好人生

公司理念:

诚信为本，以客为先，追求客户满意度:

质量至上，专业精准，提供优秀的产品:

勇于创新，效率快速，为客户创造利润:

取之社会，回馈社会，共创美好的人生

公司使命:

强化管理,不断提高技术质量让员工、客户、分销商及投资者满意，使公司合理化经营，达到持续发展

(总公司工厂生产车间、装配车间、加工车间、样机展览厅)

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影像测量仪,三坐标测量仪,工具显微镜,光栅尺

产品简介在线询价

编号：1202 SWIM系列扫描白光干涉仪结合Carmar公司的相移垂直扫描的技术与显微光干涉技术，不需要复杂光路调整程序，即可在非接触、无破坏、普通大气环境下完成3D奈米深度的表面检测分析，不仅提供3D表面形状和表面纹理的分析，更可提供镜面表面的奈米级粗糙度和台阶高度分析，并追溯至ISO国际规范。

增强型白光干涉仪使用说明书下载产品信息

奈米深度3D形状显微检测仪 SWIM白光干涉仪使用说明书下载

特色

1. 奈米深度3D检测
2. 高速／无接触量测
3. 表面形状／粗糙度分析
4. 非透明／透明材质适用
5. 非电子束／非雷射的安全量测

奈米3D显微形貌快速呈现

SWIM系列扫描白光干涉仪结合Carmar公司的相移垂直扫描的技术与显微光干涉技术，不需要复杂光路调整程序，即可在非接触、无破坏、普通大气环境下完成3D奈米深度的表面检测分析，不仅提供3D表面形状和表面纹理的分析，更可提供镜面表面的奈米级粗糙度和台阶高度分析，并追溯至ISO国际规范。

SWIM系列扫描白光干涉显微检测仪，具有*的测量能力，可在几秒内就完成整个视场的扫描，得到测量样品的3D图形与高度数据，检测速度与深度量测能力优于逐点逐面扫描的共焦扫描显微镜，3D图形量测能力又优于扫描式电子显微镜的2D平面检测能力，且不需要使用电子束或雷射，开机快又安全。

无论是抛光面，还是粗糙面，甚至是透明材质，只要有超过1%以上的反射率就能够被检测。 SWIM系列显微检测仪适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测，应用领域包含：

1. 玻璃镜片

2. 镀膜表面

3. 晶圆（Wafer）

4. 光盘／硬盘（DVD Disk／Hard Disk）

5. 微机电组件（MEMS Components）

6. 平面液晶显示器（LCD）

7. 高密度线路印刷电路板（ HDI PCB ）

8. IC封装（ IC Package）

9. 精密微机械组件（Micro Mechanical Parts）

10. LED基板表面微图案结购 (LED Subtract Micro-pattern)

11. 以及其它材料分析与组件微表面研究。

相移垂直扫描技术，使深度分辨率达0.1nm
SWIM系列显微检测仪提供Z轴扫描分辨率0.1nm，平面空间分辨力0.61nm(50X物镜)的量测能力，达12μm/s的垂直扫描速度，所具有的奈米3D显微形貌快速呈现能力是科研、研发、生产品检时所的工具。

机台规格 (以下为标准机台规格, 另可依客户需求增加电动平台或自动对焦模块)

型号	SWIM 1510MS
显示器主架构	显微镜本体0.5X
物镜放大倍率	10X		20X		50X
观察与量测范围长X 宽 mm	1.67 X 1.33		0.84 X 0.67		0.34 X 0.27

光学分辨率 (mm)	1.12		0.84		0.61
工作距离 (mm)	7.4		4.7		3.4
量测用光学系统	白光干涉显微光学系统
高度测量	测量范围			100 mm ( 400 mm, 选配)
	量测分辨率			0.1 nm
	重复精度(σ) (1)			≦ 0.1 % ( 量测高度： > 10 m m) ≦ 10 nm ( 量测高度：1 m m ~ 10 m m) ≦ 5 nm ( 量测高度： <1 m m )
	量测控制			自动
	扫瞄速度 (nm ／s)			12 （）
观察与量测用光源	光源类型			仪器用卤素光源
	平均使用寿命			1000小时
	光强度调整			自动／手动
取像单元	影像传感器			黑白 CCD数位摄像机
	传感器分辨率			1280 x 1024像素

样品移动平台	观察移动平台	行程		150 mm x 100 mm, 手动
		载重		大于 10 kg
	Z 轴移动范围			80 mm，手动
	位置数字显示单元			三轴光学尺与三轴数字显示器 (分辨率1 mm)
	倾斜调整平台			手动
	底座			花岗岩
数据处理与显示用计算机	处理运算单元			双核心CPU
	影像与数据显示屏幕			17” 液晶屏幕
	存储装置			160 GB 以上硬盘机
	操作系统			WindowsXP (2)
电源	AC110V ／220V ，50Hz ／60Hz
重量	约150 kg (含花岗岩底座)
分析软件	WindowsXP 兼容的影像撷取与分析软件, 包含 ISO 粗糙度/阶高分析,快速傅利叶转换和滤波, 多样的 2D和 3D 观测视角图, 外形／面积／体积分析, 图像缩放, 标准影像档案格式转换, 报表输出等等。
阶高标准片(选配)	提供 50 nm-- 150 mm 多种规格