KMM-300倒置金相显微镜
■ 使用专业的金相物镜及平场目镜，成像质量好，分辨率高，观察舒适
■ 提供*的图像质量和稳固可靠的机械结构.
■ 选配相应的摄影摄像附件，可对观察图像进行采集和保存，配电脑和专业金相
分析软件图像进行金相图像分析
■ 操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地
址矿物分析、精密工程测量等领域。
KMM-300倒置金相显微镜技术规格：
| 光学系统 | 有限远色差校正系统 |
| 观察筒 | 铰链式三目，45°倾斜，双边±5屈光度可调，瞳距调节范围：54-75mm，固定式分光比，双目:三目=80%:20% |
| 目镜 | 高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm |
| 高眼点大视野目镜WF15X/13 | |
| 高眼点大视野目镜WF20X/10mm (加配12.5X目镜) | |
| 金相物镜 | 长工作距平场消色差专业金相物镜5X，10X，20X，50X、100X |
| 转换器 | 内定位四孔转换器 |
| 内定位五孔转换器 | |
| 调焦机构 | 低手位粗微调同轴调焦机构，粗动每转行程38 mm；微调精度2um，带松紧调节机构 |
| 载物台 | 三层机械移动平台，面积180mmX155mm，右手低手位控制，行程:75mm×40mm;金属载物台板，中心孔直径φ12mm |
| 照明系统 | 反射式柯拉照明，带可变孔径光阑和中心可调视场光阑，自适应90V-240V宽电压 6V30W卤素灯（可选配单颗3W LED灯），光强连续可调 |
| 偏光装置 | 起偏镜和检偏镜均可移出光路，检偏镜插板可360°旋转 |
| 摄影装置 | 摄影接筒（带PK卡口），3.2X摄影目镜 |
| 摄像装置 | 0.5X/1.0X C型摄像接筒 |
系统组成
| 图 像 处 理 系 统 | （300、500万像素） ◆传感器类型 CMOS（彩色） ◆接口 USB2.0 ◆传感器厂商 MICRON ◆快门类型 线阵 ◆光学尺寸 1/2英寸 ◆有效像素 2048(H)×1536(V) ◆有效像素尺寸 6.55mm(H)×4.92mm(V) ◆像素尺寸 3.2μm(H)×3.2μm(V) ◆感应度 1.0V/Lux-sec（550nm） ◆颜色排列 RGB ◆镜头卡口 C卡口（不附镜头） ◆帧频 6fps ◆快门速度 1/9760-6.71（秒） ◆电源 USB端口 |
| 专业定量金相图像分析计算机操作系统(软件)简介: | 金相图像分析系统配置的“专业定量金相图像分析计算机操作系统(SRMAS软件)”对采集的试样图谱进行处理和实时比对、检测、评级、分析、统计及输出图文报告。软件融合了当今的图像分析技术，为金相显微镜和智能分析技术的结合，系统测量、评定结果快速、正确，符合国标(GB) 和其它相关行业标准 (JB/YB/HB/QC/DL/DJ/ASTM 等)。系统全部中文界面 (也可以选择英文版本)，简洁明了和操作方便，经过简单培训或对照使用说明书，就可自如操作。并为学习金相常识和普及操作提供了快捷方法。 系统包括如下主要功能： ◇图像编辑软件：图像采集，图像存储等十多种功能； ◇图像软件：影像增强，图像叠加等十多种功能； ◇图像测量软件：周长、面积、百分含量等几十种测量功能； ◇输出方式：数据表格方式输出，直方图输出，图像打印输出。 专用金相软件包： ◇晶粒度测量评级（晶界提取，晶界重建、单相、双相、晶粒度测量、评级）； ◇非金属夹杂物测量、评级（其中包括硫化物、氧化物、硅酸盐等）； ◇珠光体、铁素含量测量、评级；球墨铸铁石墨球化率测量评级； ◇脱碳层、渗碳层测量，表面涂层厚度测量； ◇铁素体、奥氏体型不锈钢中相-面积测量； ◇高硅铝合金初晶硅与共晶硅分析； ◇钛合金材料分析……等； ◇包含进行比对的近438种常用金属材料的金相图谱，适应绝大多数单位金相分析和检验的要求； ◇鉴于新材料和进口牌号材料的不断增加，对于软件中尚未录入的材料及评定标准，可以度身定制和录入。 |
