四探针电阻率测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
四探针电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合
GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、
GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、
GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
规格型号 | 300c |
1.电阻 | 10-7～2×107Ω |
2.电阻率范围 | 10-8～2×108Ω-cm |
3.电导率 | 5×10-8～108s/cm |
4.测试电流范围 | 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA |
5.测量电压量程 | 测量电压量程：2mV 20mV 200mV 2V 测量精度:±（0.1%读数） 分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV |
6.电流精度 | ±0.1%读数 |
7.电阻精度 | ≤0.3% |
8.显示读数 | 液晶显示：电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等 |
9.测试方式 | 四端测量法 |
10.测量装置（治具） | 选购 1.标准方体和圆柱体测量装置：测试行程：L70mm*W：60mm 2.定制治具 |
11.工作电源 | AC 220V±10%.50Hz功 耗 lt;30WH |
12. 主机外形尺寸 | 约330mm*350mm*120mm |
13.净重量 | 约6kgNet |
14.标配外选购 | 1.标准校准电阻1-5个；2.PC软件一套；3.电脑和打印机依据客户要求配置；4.计量证书1份 |
本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。
液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。
采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
广泛用于：
覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等
