日立研发推出自动对焦镀层膜厚仪FT150这款测厚仪减轻了工作负担，不同于以往的仪器有太多繁琐的步骤，这款膜厚仪具有自动定焦功能。膜厚仪采用新FP法，再灭有标准物质的情况下也能测量。（支持阶梯测量）进一步提高波峰分离能力，测量精度更高。
日立研发推出自动对焦镀层膜厚仪FT150与以往的镀层厚度测量仪相同，适用于各种应用程序，同时通过增加新功能以提高可操作性和测量性能，从而大幅缩短从准备样品达完成所以所以处理的时间。
FT150膜厚仪采用新功能，以提高可操作性。可从整个样品（大250mm*200mm)的广域图像中，一键制定测量位置。可通过与以前的狭域图像进行联动，以精确位置。多点测量的定位性能得到大幅度提升。
FT150膜厚仪自动对焦系统，缩短对焦时间，对于存在阶梯或高度差的样品，可在3秒内自动调节摄像头的焦点（自动对焦），自动将光源移动至位置（自动接近）。（适用于80mm以内的阶梯或高度差）。对于存在阶梯或高度差的样品、不更改条件设置的情况下进行测量。
FT150膜厚仪与Strata920膜厚仪的区别：1、FT150膜厚仪有2个相机，Strata920膜厚仪只有一个相机，2、FT150膜厚仪无需繁琐操作步骤。如您公司需要测量微精密仪器，那请选择FT150膜厚仪。
