日本Union DZ2-IR红外观察测量 显微镜 半导体封装
DZ2-IR日本Union红外观察测量显微镜半导体封装
主题:日本Union红外观察测量显微镜
型号:DZ2-IR
品牌:日本UNION
应用于半导体各种封装内部结构的测量
特点:
1.650~1200nm波长光学系统从可见光到近红外光范围。
2.无级变倍放大倍率(1.5X~15X)或(5X~50X)。不需要更换物镜,同时具备高的工作距离。 3.配置Uni-Measure测量软件,进行大尺寸移动测量,或微观的小尺寸测量。
4.配备表面和透射的红外光照明,能很好应用于半导体各种封装内部结构的
观察,如BGA,CSP,COF和晶圆级封装等。
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