日本东京精密探针电子比测量表位移传感器 返回列表页

比测探针E-DT-LM，如果指的是东京精密生产的E-DT-LM-S30探针，那么以下是对其的详细介绍：

一、产品概述

E-DT-LM-S30探针是东京精密在电子与通信技术领域的一款明星产品，凭借其出色的性能和稳定的质量，赢得了众多用户的青睐。

二、设计特点

1. 材料与工艺：E-DT-LM-S30探针采用了材料和制造工艺，确保了探针的精度和耐用性。探针的材质为金属膜，具有良好的导电性和抗腐蚀性，能够在各种恶劣的工业环境中稳定工作。

2. 测量性能：

• 测量范围：广泛，能够满足不同应用场景的需求。

• 重复精度：高达1%，允许误差也仅为1%，保证了在长时间的使用过程中，探针能够始终保持准确的测量结果。

• 灵敏度：高达0.01。

• 线性度：达到0.6%F.S.，这些指标都表明了E-DT-LM-S30探针在测量方面的性能。

3. 使用便捷性：探针的设计紧凑、轻便，方便用户进行携带和操作。同时，探针的安装和拆卸也非常简单，用户只需按照说明书进行操作，即可轻松完成安装和调试工作。

三、应用领域

1. 半导体制造：在半导体制造领域，探针被用于晶圆测试，能够准确地测量晶圆的尺寸和形状，为半导体制造提供了可靠的数据支持。

2. 精密机械加工：在精密机械加工领域，探针也被用于测量工件的尺寸和位置，为加工过程提供了精确的指导。

四、产品优势

1. 高精度：采用的传感技术和精密的制造工艺，确保了测量精度。

2. 强稳定性：设计充分考虑了使用过程中的稳定性和可靠性，即使在较为恶劣的工作环境下，也能保持稳定的测量性能，有效减少误差。

3. 多功能性：不仅可以用于简单的长度、直径测量，还能应对更复杂的几何形状测量，如平面度、直线度等。

4. 智能化：配合的软件系统，能够实现数据的自动记录、分析和处理，为用户提供更为便捷的操作体验。