Irix ™是一系列基于彩色共焦技术的非接触式传感器，能够测量对白光透明的任何材料上的距离和厚度。Irix ™ 可同时测量5层材料。该控制器可与一大系列具有不同测量范围、机械尺寸和计量规范的光学探针结合使用，以满足多样化的应用需求。 控制器有两种型号可供选择：带7英寸集成显示屏，或带有用于文件柜.display或采用盲板形式，机柜采用带DIN导轨连接。
描述 Irix控制器系列由不同型号（1个和2个同步通道）组成，结合各种各样的光学元件（Marposs和STIL），可提供的计量性能（高达纳米）。
Irix以的质量标准制造，是一种坚固可靠的产品，适合在工业环境中使用。
2018年马波斯完成了对法国 STIL公司（光谱共聚焦技术的）的收购。 此次收购创造了技术与市场的组合。马波斯化完整解决方案提供商的经验，搭配STIL的专业技术，并将其整合到的生产线中，使得马波斯成为汽车玻璃行业非常理想的合作伙伴。
在Marposs集团内收购STIL有助于在这类技术方面积累20多年的经验，以便在多种应用环境中提供解决方案。所有的STIL共焦探针都与Irix兼容™.
优势 - 彩色共焦技术允许测量任何能够反射白光的材料（例如：金属、玻璃、塑料、漆膜、液体）。
- 非接触式测量适用于所有需要在不接触目标的情况下进行测量的情况
- 一个光学探针可同时测量多达五个透明层
- 高测量精度
- 可互换传感器；Irix可保存多达32张地图，以便使用最合适的探头。
- 集成7“显示器
- 不受热噪声和电噪声影响的无源光学探头
- SDK和协议命令的可用性，便于集成到任何系统中
- 缩小测量点
- 动态采集用编码器同步测量（空间同步）
- 粗糙度测量
技术规格 - 用于轮廓测量的倾斜角度高达±45°的光学元件
- 用于缩小尺寸设备的缩小直径为4毫米、6毫米和8毫米的光学元件
- 7“集成显示器，具有易于使用的实验室用图形界面
- 2个同步通道，用于卷对卷应用中的非透明目标厚度测量
- 同步测量与编码器精确轮廓重建。
- 3个编码器输入（TTL和HTL型号）
- 2个模拟输出（0÷10V）
- 多达32个校准图
- 以CSV格式保存数据
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