机床商务网

行业产品

产品展厅收藏该商铺

您好 登录 注册

当前位置：
先鋒科技股份有限公司>>雷射/測量工具>>雷射光束分析M2量測>>Xeva XC-130光束分析儀

Xeva XC-130光束分析儀

返回列表页

  • Xeva XC-130光束分析儀

收藏
举报
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地

在线询价 收藏产品 加入对比

更新时间：2022-06-04 12:05:17浏览次数：278

联系我们时请说明是机床商务网上看到的信息，谢谢!

联系方式：查看联系方式

产品简介

XevaXC-130相機精確捕獲和分析900nm-1700nm的波長

详细介绍

Ophir
Xeva XC-130相機精確捕獲和分析900nm - 1700nm的波長。該相機包括可在室溫工作、寬動態範圍、快速數據捕獲率及大面陣等特徵，是進行大光束NIR激光和電信模場分析的理想選擇。
  • 320 x 256有效面積，30μm像素間距
  • 室溫下的NIR性能
  • 專有的Ultracal技術實現符合ISO標準的精度
  • 包含BeamGage專業軟體
Xeva XC-130光束分析儀 主要參數：
  • Wavelengths：900-1700nm
  • Beam Sizes：300μm – 7.4mm
  • Interface：USB 2.0
  • Sensor Type：InGaAs
  • Compatible Light Sources：CW, Pulsed
Xeva XC-130光束分析儀

其他推荐产品

更多
或

收藏该商铺

请 登录 后再收藏

提示

您的留言已提交成功！我们将在第一时间回复您~

对比框

产品对比 二维码 意见反馈

扫一扫访问手机商铺
在线留言