详细介绍
經濟型ZEISS O-INSPECT322
O-INSPECT可稱是四機一體的雙測頭測量機
提供了非常精確的測量結果,以的重現性,在可以評定是否形狀,位置公差範圍內和出測量結果報告。
O-INSPECT,光學和接觸式兩種量測可以同在一台測量機,對一個工件在一次設定中,在一個測量程式裏同時進行兩種量測動作
ZEISS O-INSPECT 產品特點
![]() | 雙測頭系統—Multi-Sensor systems1.鏡頭量測系統 :ZEISS顯微鏡 Discovery 採用Carl Zeiss鏡片,鍍層膜高達14層,高解析度,消色差,球面差,複差*消除。 |
![]() | 高度2D光學照相的圖像處理功能,獨特的同軸光照明,及8段雙色LED環形燈,紅光及藍光,因波長不一樣,可增加對焦精度。 |
![]() | 具有遠心光學系統(Telecentric),它的優點如下: 傳統鏡頭看物體會有不同投射角度,因此物體的形狀及大小會呈現失真,而不容易精確的找到特徵, 不像傳統鏡頭會隨距離改變而影像大小改變,使用Telecentric 鏡頭,不管物體靠近或遠離Camera,影像大小維持不變。它能降低放大誤差和增加量測景深,適合各種精密量測。 a.焦距動到也不會改變圖像的大小(不影響放大倍率) b.不會因物體反射率的不同,而使實的〝像〞(灰階)失真,也就是影像零失真! |
![]() | O-INSPECT 322基本參數 測量範圍(mm):X300.Y200,Z200 長度量測誤差,光學(1D){um}:1.6+L/200 長度量測誤差,接觸(1D){um}:1.6+L/200 |
2.探針量測系統 :VAST XXT scanning touch probe : 採用 ZEISS VAST XXT Direkt TL1掃描式探頭系統 量測方式 :單點或掃描式量測 量測速度 : 單點量測 up to 2.5 s/point , 掃描量測 200 point /s 探針最長可接 : 125mm,側向可接到 40mm長, 3軸皆可接探針 採用ZEISS 設計 VAST-XXT 掃描式電子探頭 (在圓直徑及圓中心的數據都有些微偏差) | ![]() |
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單點容易造成量測 | 掃描式探頭比較不易判斷錯誤 |
操作性 Operation以一種簡單又容易瞭解的原則來操作,即"您看到的是什麼,你就量測到什麼":就是電腦螢幕上所看到的,即可以精確地測量。 a.在自動CNC執行中容易切換 接觸掃描和光學量測之間的操作 。b.標準控制搖桿,可手動控制,在CNC操作時可隨時調整速度的控制。 |

A.CALYPSO 是使用簡單,界面圖示化的相容3D – CAD界面一套軟體,並且直接在工件上定義座標系。
B.在CALYPSO一個軟體上可驅動兩種光學及探針測頭系統來測量。
CALYPSO這套軟體具有*整合光學量測技術與功能,也可用來為另一個接觸式量測出測量評定報告評定工件的好壞。簡單來說就是兩種測頭,兩種量測界面(3D and 2D)都包CALYPSO 這套軟體。
實際應用:許多醫療方面的器材都是可以使用o-inspect機台量測,例如植牙方面,人工牙根的部分必須是很精準的,螺牙的部分就能夠使用我們ZEISS的機台來作量測。
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