PCT耐候老化试验箱 返回列表页

PCT耐候老化试验箱，又称为PCT耐候试验箱或PCT老化箱，是一种用于模拟产品在高压力、高温、高湿度等恶劣环境下性能变化的设备。它广泛应用于电工、电子产品、元器件、半导体、IC、LCD、磁铁等材料及产品的可靠性测试，以评估其在高温、高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能。

设备特点：

1.采用进口耐高温电磁阀双路结构，上降低了使用故障率。

2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3.门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转1000小时.

6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7.tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮

10.全触控式控制器，支持U盘导出历史记录

四、箱子尺寸

4.1.内箱尺寸  PCT-40（∮400 mm x L500 mm）,圆型试验箱

4.2.外型尺寸(约) 900x  900 x 1500 mm ( W * D * H )

五、性能指标：

1.设定温度:  +105 ℃  ～ +132 ℃( 饱和蒸气温度 )

2.湿度范围:  100 % 蒸气湿度

3.湿度控制稳定度：±1%RH

4.使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)

5.时间范围: 0 Hr ～ 9999 Hr

6.加压时间:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

7.温度波动均匀度 : ±0.5℃

8.温度显示精度：0.1℃

9.压力波动均匀度 : ±0.02Kg

10.湿度分布均度：±5%RH

PCT耐候老化试验箱的应用范围广泛，不仅适用于半导体封装之湿气能力测试，也广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐压性、气密性等。此外，加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。