当前位置:武汉普赛斯仪表有限公司>>仪器仪表>>半导体分立器件IV测试仪>> S型半导体分立器件测试系统
产地 | 国产 | 售后保修期 | 12个月 |
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销售区域 | 全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外 | 工作环境? | 25±10℃ |
测试范围 | 0~300V/0~3A | 测试精度 | 0.03% |
半导体电性能测试应用的专业领域十分广泛,分别有:微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等...
半导体分立器件测试系统之数字源表作为电学测量的常用仪器,在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到,源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量,使用非常广泛。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能,这些测试功能,令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力,而成本更低廉。
数字源表都有哪些应用呢?
实验篇
在实际应用中,不同专业领域所进行的电性能测试实验是不同的,下面就来展示一些典型的实验现象。
I-V特性测试
电流电压我都要,性能测试有一套!
C-V特性测试
输入/输出特性测试
输入特性曲线
输出特性曲线
反向击穿电压测试
讲到这里,小编还是要说一句,半导体电性能测试实验远远不止这些,在各种实验项目中,多功能数字源表不可缺。
普赛斯仪表专注于半导体电性能测试领域,基于高精度数字源表综合实验平台,可提供多种实验测量环境,搭配丰富的测试夹具及实验器材,满足半导体电性能测试需求,提高测试效率。
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