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【简单介绍】
【详细说明】
OMP60光学测头
用于在各种型号的加工中心和中小型多用途机床上进行工件检测和工件找正。
用于工件找正和检测
OMP60超小型3D触发式光学测头,用于在各种大中型加工中心上进行工件找正和检测。它使在机辅助时间节省90%之多,并可减少废品率,降低夹具成本。
与所有雷尼绍光学接收器(传统和新型)兼容,因此用户可轻松升级现有装置。
特性与优点
成熟的运动机构设计
采用调制传输功能,具有优异的抗光*力
360°传输范围
超小型设计
各种激活选项和可调节能力
1 μm 2σ重复性
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测头
断刀检测
磁编码器
XL-80激光干涉仪
对刀仪
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激光尺
光栅
Zeiss测头*测针
XM-60多光束激光干涉仪
XR20-W无线型回转轴校准装置
QC20-W球杆仪
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