残余奥氏体分析仪 返回列表页

残余奥氏体分析仪能检测钢铁材料中残余应力也能检测残余奥氏体含量。当X射线照射铁素体和奥氏体时会产生衍射，其衍射峰的强度与各相体积分数成正比，因此通过各衍射峰的强度对比可以分析计算出残余奥氏体的百分含量。Xstress 残余应力分析仪采用四峰法自动测量残余奥氏体含量，精度优于1%。相比较于传统的金相法等手段，四峰法具有无损、快速和精确等特性。

残余奥氏体分析仪使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体，适用于所有多晶体材料（包括陶瓷）。

产品特点：

具有自动校准功能，方便操作

自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节

激光定位：保证了测量的准确性

设备重量轻，方便携带

测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象

技术规格：

主控单元

可自由调整。超紧凑设计

包括

-电源

-电子部件和固件控制单元

-高压发生器

-自循环液体冷却系统，不需外部供水

-确保安全所需的所有互锁装置

残余奥氏体测量

实验室精度

不需切割试样

测角仪

测角仪安装在一个带有磁座的三角架上。

-倾角：可编程-60°~ +60°(标准)

-摇摆：可编程0°~ ±6°

探测器

在?几何系统的入射线两侧对称安装了高精密度的MOS线性成像探测器

角精度：0.014°-0.057°象素

软件

操作系统：Windows。