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硅片厚度测量仪SIT-200
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2023-04-21 14:10:20
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图片描述:
硅片厚度测量仪(SIT-200)由精确可调激光光源,聚焦传感器,光学接收器组成。波长扫描光聚焦照射到目标上,由目标表面和背面反射光干涉形成干涉图案,经过聚焦传感器后由光学探测器进行检测。硅片厚度测量仪SIT-200
图片来源:
https://www.jc35.com/chanpin/2476218.html
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