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测试薄膜的介电常数仪器设备
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2019-12-26 14:23:56
611
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测试薄膜的介电常数仪器设备片状电容器和半导体晶圆的电容值现已到毫微微法拉(fF)级。为实现更高的良率和设计可靠性,需要执行极其稳定和精确的的高阻抗测量。在这方面的性能远远超过了早期已成为行业标准的LCR表
图片来源:
https://www.jc35.com/chanpin/1767386.html
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