2023-05-29 14:36:46225
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M42跟踪式三维扫描系统，采用智能光学跟踪测量技术，配备高品质光学设备，无需贴点即可完成超高精度动态三维测量，可应用于质量控制、产品开发、逆向工程等多个方面。基于不同的扫描场景需求，M42可自由切换多种工作
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