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测厚仪/厚度计
薄膜膜厚仪
光学薄膜厚仪Delta系列
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2021-12-10 16:10:00
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产品特点白光干涉测厚仪TF200-XNIR产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS
图片来源:
https://www.jc35.com/chanpin/2247158.html
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