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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪图片
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2017-02-20 14:24:29
1448
参考价
:
面议
具体成交价以合同协议为准
产品型号
:
光学探针双模式轮廓仪
厂商性质
:
代理商
品牌
:
所在地区
:
北京市
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图片描述:
美国AEPTechnology公司主要从事半导体检测设备,MEMS检测设备,光学检测设备的生产制造,专门致力于材料表面形貌测量与检测。
图片来源:
https://www.jc35.com/chanpin/1273502.html
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