绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化试验箱
绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。
绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化试验箱
应用
PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等，GBA、DSP等，IC封装、电容器、连接器等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。
绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化试验箱 特点：
高机能:采用驱动计测测试时焊接工序大幅减少
软件设计简单明了，直观易操作
远程监控功能，可监控试验过程。
便利性高:构造装着脱落式易进行保养交换。可同时试验停止等联动装置功能，系统构成灵活。
测试自检功能:点检、校正方便。
设计精巧，不受场所限制，易移动。
可靠性高:配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，保证试验的安全继续进行
