B-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装,半导体,微电子芯 片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速 寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和 薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
B-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温 度中,(环境温度依据被测元件规格设定)给被测元件施加一定的偏置电 压。同时控制系统实时检测每个材料的漏电流,电压,并根据预先设定, 当被测材料实时漏电流超出设定时,自动切断被测材料的电压,可以保护 被测元件不被进一步烧毁。
B-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱
适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
特点:
·每颗器件的Vgs独立控制
·实时监测每个试验器件的 Id、Ig
· 控制上、下电时序
· 全过程试验数据保存于硬盘 中,可输出Excel
·试验报表和绘制全过程漏电流 IR变化曲线
·漏电流超限保护,自动切断测 量回路
标准:
AEC-Q100、 MIL-STD 750D、 GJB128、 JEDEC等标准