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晶体方位测量装置

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海信良志商业有限公司
  • 品       牌东芝/Toshiba
  • 型       号SU-021
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质经销商
  • 更新时间 2024-05-13
  • 访问次数474
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上海信良志商业有限公司是一家工业领域的优异综合性设备进出口贸易商,主要销售机加工设备,食品加工设备,预制菜加工设备以及各类中古机械等一系列产品。


核心价值

信:建立诚信和信任为核心的文化。对内,要求员工之间、部门之间建立起互信和诚信的关系;对外,要求企业与客户、合作伙伴之间建立起长期合作的信任关系。
良:倡导良好的道德和行为准则。推崇诚实、正直、公正、透明的行为,坚守商业道德,遵循法律和法规,建立人人都遵守的行为规范。
志:树立共同的目标和意义。明确企业的使命、愿景和价值观,让员工能够理解和认同企业所追求的目标,激发员工的工作热情和归属感。

信,良,志,即是我们的核心价值,也是我们的行动规范。


企业文化
人才培养:注重员工的培训和发展,提供学习和成长的机会。鼓励员工不断学习和提升技能,建立学习型组织的文化氛围。
激励与奖励:建立公正的激励机制,奖励员工的优异表现和贡献。通过奖励制度激励员工的工作动力,提高员工的工作满意度。
沟通与团队合作:建立开放、透明和积极的沟通文化。促进员工之间的良好合作和团队精神,鼓励员工分享想法和经验,共同解决问题和实现目标。

领导示范:领导应该以身作则,成为企业文化的榜样。通过自身的言行举止,引导员工向 着信、良、志的方向发展。


社会责任

注重企业的社会责任,构建以信、良、志为核心的企业价值观和文化理念,积极参与公益事业和环境保护。促进员工的凝聚力、归属感和工作动力,进而提升企业的价值和竞争力,从而树立企业的良好形象,树立社会认同感和荣誉感,为和谐社会发展做出应有贡献。


发展愿景
作为一家专注于工业品进出口的贸易商,我们致力于引进国外优质设备和技术产品,在新能源、低碳和人工智能自动化发展中寻找契机,并引导公司在这些领域取得进展和成果,进而服务于"中国制造2025",推动中国制造业向高级、智能和绿色方向升级。同时,我们也会尽力把有竞争力的“中国制造"出口到世界各地,以满足不同地区不同国家的切实需求。

无论国内国外,我们都会把您最需要的东西,在您最需要的时候,送到您最需要的地方,不断自我完善,从而实现自我价值。


战略规划
以进口先进加工设备和食品加工设备为主,辅助引进其他成熟工业技术和产品,促成中国工业制造的产业升级和食品卫生安全的合理完善。



数控加工机床,立式加工中心,研磨机,电子天平,台式烧烤机,数控高压清洗机,数控钻铣床,数控磨床,烤面包机,无线测试仪
产地 进口 类型 其他X射线仪器
售后保修期 12个月 销售区域 全国
晶体方位测量装置用途单晶硅/晶圆的结晶方位测量,支持Si、蓝宝石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。侧角机构可以高精度地测定单结晶锭和晶片的结晶方位、外观和外形。
晶体方位测量装置 产品信息

晶体方位测量装置的特点:

1.实现角度测量的高精度化
根据独自的测角系统,实现高再现性和线性。
2.长期稳定性能
机构部具有很高的刚性和耐久性,能够长期维持稳定的性能。
3.采用X射线档案峰值检测功能
根据统计处理技术,采用X射线档案峰值检测方式,可获得高精度稳定的角度测量性能。
4.高速、高精度测量
不仅有4方位测量功能,还有2方位测量功能,测量时间只需要4方位测量的1/2。(不包括SU-001)
方位测量是用球面几何学精确求解结晶方位的X,Y倾斜度。为此以和4方位测定相同的精度求出。
5.X射线剂量测定系统
X射线量测定系统通过脉冲海分析仪降低散射等误差原因,筛选出Cu的特性X射线,可进行高精度的测定。
6.采用高灵敏度检测器(可支持偏移角大的结晶)
检测器对应检测的X射线(Cu的K α)具有灵敏度。另外,由于是气体检测器,所以对X射线的入射位置和方向的检测灵敏度的变动很小,对于结晶面的倾斜角的变化可以进行稳定的测量。


晶体方位测量装置的参数:

型式対象測定項目用途
SU-001インゴットVノッチ(オリフラ面)方位Vノッチ加工用円筒研削機に本装置を取り付けて、Vノッチ方位を決定します。

・測定精度:±5′
・対象ワークサイズ:2~18インチ
SU-002インゴットカット面方位(軸方位)ウェハ加工前インゴットの軸方位を測定します。

 ・測定精度:±30″
・対象ワークサイズ:2~18インチ
SU-003ウェハVノッチ(オリフラ面)方位カット面方位(軸方位)・ウェハのカット面方位およびVノッチ方位と所定の結晶面との傾きを測定し、基準値と比較して良否判定をします。

・測定精度:±30″(カット面)
・対象ワークサイズ:2~18インチ
SU-005インゴットVノッチ(オリフラ面)方位、外観、形状、重量Vノッチ加工後のインゴットについて、Vノッチの形状・深さ・結晶方位、さらに、インゴットの欠け、傷、切削残、直径、重量を測定します。

測定精度:±5′
SU-021インゴットVノッチ(オリフラ面)方位カット面方位(軸方位)ウェハ加工前インゴットの軸方位とVノッチの結晶方位を同時に測定します。(側面の測定のみで軸方位を求めます。特許第3805869号)

・測定精度:±5′(カット面) ±3′(Vノッチ方位)








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