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狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8

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公司名称先锋科技股份有限公司
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厂商性质其他
更新时间 2023-10-13
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狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測器，3.5mm狹縫，1.8µmNanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長

狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8 产品信息

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：矽探測器，3.5mm狹縫，1.8µm NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長。該分析儀包括適合於小光束的狹縫尺寸，近實時數據捕獲率，可選的功率測量功能等特徵，且可在連續或kHz脈沖模式下工作，非常適合於對UV，VIS和NIR雷射進行全面分析。