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KSCAN20复合式三维扫描仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称杭州思看科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号KSCAN20
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间 2023-03-04
  • 访问次数282
产品标签:


SCANTECH(思看科技)是早研发生产手持式三维视觉测量产品的高科技型企业之一,凭借雄厚的技术实力与世界多家企业建立战略合作,并与欧洲多家光学计量企业建立联合研发中心或共同开发计划。SCANTECH的产品辐射50多个国家和地区,服务企业5000家以上,经销商及国际化的销售与技术支持团队遍布,为波音、NASA、COMAC、宝马、大众、通用、苹果、华为、西门子、JCB、三一重工等企业及研究机构提供行业前沿的三维测量技术解决方案。公司成立至今发展迅速,在研发、管理等方面持续投入,吸纳众多国际化人才。研发人员约占公司总人数的50%,其中硕博比例高达80%,研发出一系列拥有自主知识产权的3D数字化检测系统。产品线覆盖面向工业计量的在线自动化检测、离线检测和面向消费级领域的手持彩色三维扫描仪,广泛应用于航空航天、汽车/轨道交通、机械制造、医疗康复、影视数字艺术、教学科研、文化遗产保护、3D打印、VR/AR等领域,帮助企业实现品质、优解,开拓更广的三维数字化领域。
三维扫描仪
KSCAN复合式三维扫描仪,融合了思看科技红蓝双色激光和全局式三维测量两项创的技术,不仅具有远超其它激光三维扫描仪的细节捕捉能力,同时内置的摄影测量系统模块极大的扩展了仪器所支持的扫描尺寸和扫描精度,真正能做到从硬币到飞机一机轻松扫描,是一款应用广泛的专业级3D扫描仪。
KSCAN20复合式三维扫描仪 产品信息

测量物体尺寸不受限

从硬币到飞机一机轻松扫描

体积精度高达0.035mm/m

内置摄影测量,大型工件测量更精准

支持接触式测量

多种工作模式,弥补传统设备在基准孔测量、隐藏点测量、特征测量、调装检测等应用领域的不足之处

红蓝双色激光

兼顾灵活高效和高细节度,蓝光0.010mm超高分辨率,呈现细节

扫描效率全面提升

深度优化各个扫描环节,省时50%以上

操作更简单 更智能

简洁的按键设计,智能呼吸灯带指示,设备运行一目了然,大大降低了操作门槛

技术规格

型号 KSCAN20
高速扫描 14束交叉红色激光线
扫描模式 精细扫描 5束平行蓝色激光线
深孔扫描 额外1束红色激光线
精度(1) 0.020 mm
扫描速率 650,000 次测量/秒
扫描面幅 550 mm × 600 mm
摄影测量 是否选配 标配(内置)
面幅 2500 mm × 3000 mm
景深 2500 mm
激光类别 ClassⅡ(人眼安全)
分辨率 0.020 mm
体积精度(2) 标准 0.015mm + 0.035 mm/m
高精(1) 0.015 mm + 0.020 mm/m
高精(2) 0.015 mm + 0.015 mm/m
基准距 300mm
景深 450mm
K-Probe光笔 是否选配 选配
单点重复性 0.030 mm
跟踪频率 60 hz
智能边界探测模块 是否选配 选配
边界精度 0.030 mm
管件模块 是否选配 选配
输出格式 输出YBC/LRA及补偿值
输出格式 .stl, .ply, .obj, .igs, .wrl, .xyz, .dae, .fbx, .ma, .asc等,可定制
工作温度 -10~40°C
接口方式 USB 3.0
证书 CN204329903U, CN104501740B, CN104165600B, CN204988183U, CN204854633U, CN204944431U, CN204902788U, CN105068384B, CN105049664B, CN204902784U, CN204963812U, CN204902785U, CN204902790U, CN106403845B, CN209197685U, CN209263911U, CN106500627B, CN106500628B, CN206132003U, CN206905709U, CN107202554B, CN209310754U, CN209485295U, CN209485271U, CN305446920S, CN209991946U, USB2, KR102096806B1,KR102209255B1、USB2, EP3392831A4

(1) ISO 17025实验室认可:依据VDI/VDE 2634 part3 标准和JJF 1951规范,对尺寸探测误差(PS)性能进行评估。

(2) ISO 17025实验室认可:依据VDI/VDE 2634 part3 标准和JJF 1951规范,对球心距测量误差(SD)性能进行评估。

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