ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量点，使其成为在物体区域内进行单点测量的解决方案，如（修剪）边缘和规则的几何形状。该装置可与传统的测头一起使用，测头更换更加简单、快速。
便携式测量技术可供制造商和生产经理直接在生产车间使用，从而大幅提升质量控制工作的灵活性和效率。ZEISS T-POINT便携式 CMM 测量笔 不易受环境变化的影响，可生成高精度的测量数据。便携式 CMM测量笔无需固定的测量设置，在车间环境中的表现远远优于传统的便携式 CMM。
ZEISS T-POINT系统功能完备，可实时执行其扫描和探测设备与被测部件上目标点之间的动态参考。ZEISS T-TRACK光学跟踪器及无线探头在测量过程中均可随时移动，并生成同样高质量的数据。ZEISS T-POINT便携式光学测量笔专为满足当今制造业对质量的高度要求而设计，具有少有的灵活性，测量范围相对其他便携式 CMM 更加广泛。
此计量检测解决方案可帮助制造企业消除制造过程效率低下的问题，避免不必要的开销。
特性：
计量级测量：具有超高的精度，更有较高的重复性及可追踪认证
动态参考：通过光学反射器准确到几微米产品一个“锁定”到部件本身的参照系，用户因而可以在测量过程中随意移动对象
可准确测量多种部件尺寸
现场校准步骤简便，质量控制精度不受时间影响
无需固定设置：测量过程中可随时自由移动部件和系统
测量范围更宽广并易于扩展
自动对齐：借助光学反射器可实现重复检测而无需重新对齐
人体工程学设计，具有多功能按钮，与软件交互更为简便
学习周期短，操作直观
应用：
检测和质量控制
逆向工程
部件至 CAD 分析
和供应商质量检测
针对 3D 模型与原始部件或生产工具的一致性评估
针对制成部件与原始部件的一致性评估
对齐
工具认证
多点测量
与 ZEISS T-SCAN 结合使用时，可实现全自由形态检测并生成高密度色图。
逆向工程：
几何实体的逆向工程（球面、柱面、平面）
与 ZEISS T-SCAN 光学 CMM 扫描仪结合使用时，可对混合部件（几何与自由形态）执行更快更准确的逆向工程
