蔡司电脑断层扫描测量机

蔡司X射线光学显微镜Versa凭着出色的大工作中间距高分辨率(RaaD)的特点，变成了出色科学研究工作人员和生物学家的“强有力助手”。在相对性大工作中间距下也可以维持高分辨率，有利于造成意义非凡的科学研究看法和发觉。伴随着现如今技术性的迅速发展趋势，对分析仪也明确提出了高些的规定，而蔡司Xradia600Versa系列产品便是专为解决这一挑戰而设计方案的。

蔡司X射线光学显微镜Xradia610&620Versa选用改善的灯源和光学技术

X射线电子计算机断层扫描仪显像行业遭遇的两个挑戰是：完成大容量试品和大工作中间距下的高分辨率和高通量测序显像。蔡司发布的2款X射线光学显微镜凭着下列优点解决了这种挑戰：系统软件可出示大功率的X射线源，明显提升 X射线扩散系数，进而加速了断层扫描仪速率。工作效能提升 达二倍，并且不容易危害室内空间分辨率。另外，X射线灯源的可靠性获得提高，使用期限也更长。

关键特点包含：

✔zui高室内空间分辨率500nm，zui小体素40nm

✔与蔡司Xradia500Versa系列产品对比，工作效能提升 二倍

✔更为简单实用，包含迅速激话源

✔可以在很大的工作中间距下对更广的试品种类和规格的试品开展亚微米特点的观查

高些的分辨率和扩散系数

传统式断层扫描仪技术性取决于单一几何图形变大，而蔡司X射线光学显微镜XradiaVersa则将选用电子光学和几何图形二级变大，另外应用能够完成更快亚微米级分辨率的高通量测序X射线源。大工作中间距下高分辨率显像技术性(RaaD)可以对规格更高、相对密度高些的试品(包含零件和机器设备)开展高质量高分辨率三维显像。除此之外，可选装的平板电脑探测仪技术性(FPX)可以对大容积试品(重约25kg)开展迅速宏观经济扫描仪，为试品內部很感兴趣地区的扫描仪出示了导航定位。

完成新的可玩性

应用业内优异的三维X射线显像解决方法进行前沿的科学研究与工业科学研究：凭着zui大化运用消化吸收和相位差衬度，协助您鉴别更丰富的原材料信息内容及特点。应用透射衬度断层扫描仪技术性(LabDCT)揭露三维分子结构信息内容。优秀的图象收集技术性可完成对大试品或不规律样子试品的高精密扫描仪。应用深度学习优化算法，协助您开展试品的后处理工艺和切分。

出色的2D/原点解决方法

蔡司Xradia600Versa系列产品可以在可控性自然环境下开展原材料三维高质量外部经济构造定性分析的动态性全过程。凭着XradiaVersa在大工作中间距下仍可维持高分辨率显像的特点，可将试品置放到试品舱底或高精密原点载入设备中开展高分辨率显像。Versa可与蔡司其他光学显微镜无缝拼接集成化，处理多尺度显像层面的挑戰。