Mini LED光电特性测试
Mini LED芯片在被封装前后，需要经过检测工序，以剔除其中的不合格品。其中，光电性能检测是非常重要的指标参数。光电性能检测是指对晶圆上的芯片，或者封装后的成品，对其电压(V)、电流（I），VFD，波长(WD)、亮度(LOP)、抗静电能力(ESD)，等光电性性能逐一进行测试，得到实际数值，进而为后续加工生产提供可靠的产品实际性能信息。由于Mini LED具有尺寸小，使用数量大等特性，因此，其光电特性测试也提出了新的要求。
高精度微弱电流
由于Mini LED本身的特性，正向点亮测试时，输入电流较小，一般在mA，甚至微安级；反向高压漏电流测试，电流甚至低至纳安级。精确稳定地输出与测量电流，是获取准确测试结果数据的先决条件。
高效率
Mini LED生产工艺效率要求高，预留给芯片的电性能测试时间，一般控制在十几ms以内。高效快速的输出与检测电压、电流，是提升生产效率的重要保证。
广泛兼容性
Mini LED测试，往往需采用自动化设备来进行，且测试项目包含电压，电流等电特性参数，以及光谱，光功率等光性能参数。广泛的软硬件兼容性，有助于终端用户，根据实际测试要求，选配不同测试仪器，以及自动化设备。
利用数字源表进行Mini LED光电特性测试
实施Mini LED光电特性参数分析的Z佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表作为独立的恒压源或恒流源，输出恒压或恒流、还可以当作表，进行电压或者电流测量；支持Trig触发，可实现与光谱仪，探针台，分选机等第三方设备联动工作。
目前，光电性能检测是通过Mini LED点测机实现的，用于测量晶圆上每一颗芯片。点测机的主要结构单元包括探针台，电性能测试单元，光性能测试单元，以及上位机控制系统等。该工序根据实际情况，位于晶圆划片前，或者后工序。设备基本构成主要包括探针台，电子显微镜，SMU，ESD，工控机，积分球，光谱仪等。其中，SMU的作用是对芯片进行IV特性测试，同时在光学测试中，对芯片进行供电。
常用的电性能测试项目包括，VF1,VF2,IR,VZ,VFD,DVF等。
⑴ VF（正向电压）测试， FIMV： 一般会测两个点， D一个点VF1为 LED刚点亮时电压， 第二个点VF2为LED 正常工作时的电压；
⑵ VZ（反向击穿电压）测试， FIMV：一定反向电流时，器件两端的电压;
⑶ IR（反向泄露电流）测试， FVMI： 一定反向电压时， 流过器件的电流；
⑸ DVF 测试，材料热缩效应测试， FIMV： 对LED施加两次不同的电流，并计算不同条件下的电压差；
⑹ VFD 测试，正向电压暂态峰值电压测试， FIMV： 对LED施加一定的正向电流，同时采集电压变化， 尖峰电压与正常电压的差值即为VFD；
武汉普赛斯一直专注于半导体，LED，激光器的光电性能测试仪表开发，基于核心算法和系统继承等技术平台优势，S先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、窄脉冲源表、集成插卡式源表，Mini LED源表测试系统等产品，广泛应用在半导体，LED，激光器等产品的生产、研发、测试场景。可够根据用户的需求提供高性能，高效率，高性价比的半导体，LED，激光器测试系统级解决方案。miniled光电特性测试数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表
miniled光电特性测试数字源表
| 参考价 | ¥ 1000 |
| 订货量 | ≥1 台 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称武汉普赛斯仪表有限公司
- 品 牌其他品牌
- 型 号S系列
- 所 在 地武汉市
- 厂商性质生产厂家
- 更新时间 2022-11-17
- 访问次数575
武汉普赛斯仪表有限公司坐落于国家*产业基地“武汉·中国光谷”，是一家集研发、生产、销售、服务于一体的技术型企业，拥有以硕士、博士学历为主的研发团队和经验丰富的管理服务团队。
普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、脉冲式源表、集成插卡式源表、窄脉冲电流源、高精度高压电源等，*国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合，帮助用户构建自定解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。
武汉普赛斯将以服务客户为中心，追求可持续发展为道路，精益求精，坚持不懈，努力将自身打造成行业B杆。
源表,数字源表,脉冲源表,源测单元,SMU,脉冲电流源,VCSEL测试仪器,脉冲LIV
| 产地 | 国产 | 售后保修期 | 12个月 |
|---|---|---|---|
| 销售区域 | 全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外 |
miniled光电特性测试数字源表 产品信息
