产品名称：蔡司三坐标O-INSPECT 
： 产品介绍
蔡司三坐标O-INSPECT的测量精度及长期可靠性为大批量与高精度测量要求提供了解决方案。
O-INSPECT广泛应用于真正3D测量的光学与接触式测量技术。 光学测量技术仅受特性的视觉识别程度所影响。这取决于多种因素，例如零件自身的形状、颜色和表面质量，以及光学检测系统的质量、照明情况等。卡尔-蔡司蔡司三坐标O-INSPECT奠定了光学测量的基础，即基于多功能与柔性的Discovery镜头、合适的照明系统及共聚焦白光传感器。 蔡司三坐标O-INSPECT地结合了速度、光学传感器的高分辨率以及接触式测量系统的3D探测功能。迄今为止，O-INSPECT实现了4类独立的测量系统功能，即显微镜、投影仪、坐标测量机与轮廓测量仪。同时，O-INSPECT能够实现一台设备一次设置即可完成全部的测量任务。多功能性使得O-INSPECT成为医疗技术、塑料技术、电子与精密工程领域的理想检测方案。由于应用了密闭式导轨及集成了减振系统，蔡司三坐标O-INSPECT可直接在车间内的全封闭导轨和集成减振系统中使用。 O-INSPECT中的每个组件皆体现出了的性能，的结合确保了的效率。各类检测任务可在同一台设备中完成，因此采用O-INSPECT可省去多次不必要的重复检测。更重要的是，O-INSPECT简易和一致的操作理念可大大降低培训要求。 区别于测量领域内普遍应用多个定焦镜头的情况，O-INSPECT的Discovery12x变焦镜头提供多达10种放大倍数可供自由选择与切换。因此测量时无需更换镜头，使得测量速度更快，每种放大倍数下均可确保的重复再现性。与此同时，对于照明光强与聚焦技术Discovery亦体现了之优势。传统的远心镜头通常功能有限，其Z向探测精度较低，而Discovery的不同之处在于，作为的远心技术，其处于光强重要性略低的中间倍率等级上。 O-INSPECT对于非接触3D细微结构的高效测量，可选配共聚焦白光传感器，白光传感器可用于测量反光或透明的对象。理想的照明取决于被测零件或特性，即轴向和侧向照明、垂直和倾斜的照明角度或是由底部进行照明。O-INSPECT配备全面的照明单元确保其适用于所有的测量任务。 O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VASTXXT3D连续扫描测头，不仅可实现单点触测，更可高效精确测量各类形状误差。VASTXXT支持30～125?mm测针，可实现深孔的快捷测量，40mm的侧向测针可确保的柔性，VASTXXT甚至可在不更换测针的条件下实现复杂工件快速测量。 O-INSPECT支持CNC运行中的测头自动切换，甚至在一个检测元素中亦可实现。即便手动切换，该测针亦可自动识别，无需耗时的重复校准。 O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能，可于同一视图中同时显示影像、CAD模型及测量值，同时可查看实际状态、理论状态及偏差，更快捷地诠释测量结果。同时，CALYPSO软件通过与其他蔡司三坐标的程序共享，可方便快捷地以同一测量策略完成所有的测量任务。 地结合了速度、光学传感器的高分辨率以及接触式测量系统的3D探测功能，是您测量各类中小型零部件的理想之选。
