详细说明
- 产品型号：SJ5100-Lab（实验室）型
- 产品名称：高精度光栅测长机
- 外尺寸重复性(2S)：≤0.1μm
- 内尺寸重复性：≤0.2μm（使用大小测钩）；≤0.3μm（使用内尺寸测量装置）；
- 分辨力：0.01μm
- 测力：0.3N、0.5N，0.1-10N手动连续可调
- 测量很大螺纹中径：200mm（螺纹环规/塞规）
- 主要特点：全程测量，双向恒测力
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详细信息
一、产品描述
SJ5100高精度光栅测长机采用进口高精度光栅测量系统、精密研磨导轨、高精度温度补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现各种长度参数的高精度测量。通过高精密研磨导轨保证测量行走的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统记录接触测量中长度方向坐标，由计算机将数据与测倾装置、测力装置、温度传感器的反馈数据进行合成，按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。
操作者装好被测件，在检测软件上选择被测件的标准和输入被测件的规格等参数后，移动头座接触被测件，调整五轴工作平台及头尾座找到拐点，采样完成得到当前测量数据，系统可以实时显示测量结果，自动计算出被测件的各项参数（如检测螺纹规，则可换算显示出螺纹中径），并根据系统内置的标准数据库对被测件的各项参数进行合格判定，整个测量过程不超过3分钟，检测结束后自动生成检定结果。
仪器测量原理符合《GB/T 28703-2012圆柱螺纹检测方法》、JJF 1345-2012圆柱螺纹量规校准规范、JJG 146-2011 量块检定规程、JJG 21-2008千分尺检定规程、JJG 22-2003内径千分尺检定规程、JJF 1207-2008三针/针规检定规范、JJG 62-2007塞尺检定规程等长度检定规程规范。
系统软件为简体中文操作系统，操作方便。
二、产品功能
1.检测量块、块规、环规、塞规、螺纹规、卡规、校准杆、锥规（选配）、花键规（选配）、尺类（选配）、表类（选配）等；
3.满足多种检定规程、标准，根据规程、标准自动进行检测结果判定；
4.界面友好，更符合中国用户操作习惯；
5.测量记录采用集中式数据库管理，可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检定员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理检定记录；
6.可从数据库中选定多条记录成批打印检定记录或者检定证书；
7.可将检定数据输出到Word、Excel、AutoCAD（选配）文档；
8.具有数据备份和还原数据库功能；
9.输出多种Word格式报表，并支持*的自定义报表，定制检定记录报表和检定证书的格式，特别适合国内计量机构对报表方面的要求；
10.可根据客户需求定制检定标准（选配）。
SJ5100-Lab（实验室型）高精度光栅测长机选型表
规格： SJ5100-Lab300 SJ5100-Lab600 SJ5100-Lab1000 SJ5100-Lab1500 SJ5100-Lab2000 SJ5100-Lab3000 外尺寸测量范围： 0-340mm 0-640mm 0-1040mm 0-1540mm 0-2040mm 0-3040mm 内尺寸测量范围： 5-200mm 5-500mm 5-900mm 5-1400mm 5-1900mm 5-2900mm 分辨力： 0.01μm 0.01μm 0.01μm 0.01μm 0.01μm 0.01μm 外尺寸示值误差：
±（0.15+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm ±（0.15+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm ±（0.15+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm ±（0.3+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm ±（0.3+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm ±（0.3+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm 测力： 0.3N、0.5N，1-10N手动连续可调 0.3N、0.5N，1-10N手动连续可调 0.3N、0.5N，1-10N手动连续可调 0.3N、0.5N，1-10N手动连续可调 0.3N、0.5N，1-10N手动连续可调 0.3N、0.5N，1-10N手动连续可调 测量很大螺纹中径： 200mm（螺纹环/塞规） 200mm（螺纹环/塞规） 200mm（螺纹环/塞规） 200mm（螺纹环/塞规） 200mm（螺纹环/塞规） 200mm（螺纹环/塞规） 仪器尺寸（长宽高mm）： 1400×400×450 1400×400×450 1700×400×450 2200×400×450 2700×400×450 3700×400×450 仪器重量： 150㎏ 150㎏ 180㎏ 240㎏ 260㎏ 360㎏
