| GVS204 SSI-BiSS 串行接口 | |
| 分辨率 | 高达0.1微米 |
| 测量分辨率 | 1微米-0.1微米 |
| 栅距 | 20 微米 |
| 精度等级 | 标准± 2.5微米 高精度±1微米 |
| 大加速度 | 高达120米/秒 |
| 测量长度 | 170,220,270,320，......微米 |
| 串行接口 | SSI--BiSS,带或不带模拟信号 |
| 保护等级 | 标准IP54 加压IP64 |
式光栅尺基于玻璃测量技术制成,特别适用于同步折弯机.
- 拥有一系列SSI-BiSS串行协议,带或不带1Vpp模拟信号
-读数头被带弹簧系统的自对正自洁净滑架引导
-分辨率高达0.1微米
-标配版本精确度±2.5微米, 高精度版本精确度高达±1微米
-通过SSI协议和可编程分辨率
-通过转换网关Profibus-DP接口, Profinet, CANopen, DeviceNet, ModBus 和 DRIVE-CLiQ协议
-所有尺子均提供测量证书
-用特殊橡胶制成的耐油及耐磨损封唇,用于保护光栅
-使用万向连接杆或钢丝,带来各种应用安装的可能性.适配器确保与PBS-HR尺子的兼容性.
-在高运速,强加速度和振动条件下也保持高度的精确性和稳定性
-防止输出端电源极性反转和短路
