仪器设备介绍：
铝箔铜箔测厚仪CHY-U可专业用于检测药用铝箔、PVC硬片、薄膜、薄片、纸张、铜箔等材料的厚度，采用机械接触式测量方法，分辨率高达0.1微米。
主要参数：
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
测量速度：10 次/分（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)
外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：23kg
测试原理：
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。
技术优势：
1、专业：三泉中石在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现*的测试稳定性、重复性及精度。
2、高效：本检测仪器采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。
3、智能：本检测仪器具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；为用户提供安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。
执行标准：
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）
铝箔铜箔测厚仪（包装铝箔厚度测量仪）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制；测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。
