深圳市湾边贸易优势供应美国Sinton公司BCT-400/BLS-I少子寿命测量仪，咨询！
深圳市湾边贸易有限公司优势供应Sinton 少子寿命测量仪，BCT-400测试硅锭，BLS-I测试硅棒，Sinton X-闪光灯头，Sinton X5D闪光灯头，Sinton X闪光灯座。
Sinton BCT-400少子寿命测量仪
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
BLS-I/BCT-400产品规格
寿命值测量范围：100 ns至> 10 ms
电阻率测量范围：0.5-300 Ohm-cm
测量（分析）模式
环境工作温度：20°C-25°C
电源：BLS-I/BCT-400: 40 W
计算机与显示器:200w
光源:60w
尺寸（无手柄）
BLS-I: 7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H
BCT-400: 6.1 cm W x 15.0 cm D x 12.7 cm H
通用电压：100-240 VAC 50/60 Hz
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*美国Sinton BCT-400少子寿命测量仪
*美国Sinton BCT-400少子寿命测量仪
