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北京二维轮廓度测量仪供应商海普超精CLY-200B应用领域

二维轮廓度测量仪是光学元器件检测*的设备。

适合全线光学元器件的测量（包括陡峭、平坦或小矢高等光学元器件）。

可测量光学元件的轮廓度与光学方程的误差。可逆推光学方程，对未知表面具有逆推系数的分析能力。

北京二维轮廓度测量仪供应商海普超精CLY-200B使用环境要求

设备使用温度:20±2℃。一天内温度梯度小于3℃。

湿度：＜65%。

空气压力：≥0.6MPa。

空气过滤精度：0.01um。除油、除水。

空气流量: ≥0.1m³/min。

海普超精CLY-200B技术参数

调整台  
平移台直径200mm  
平移台行程100mm

Y轴（滑动立柱）  
行程360mm  
运动直线度5µm

X轴（滑动横梁）  
行程200mm  
直线度2µm/200mm

气浮测头（测量臂长55mm）  
测量精度1µm  
测量矢高（zui大）10mm