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详细介绍
测量印制电路板上镀层厚度及成分分析的入门级、耐用型测量仪。 1、样品定位简单：① XDLM-PCB 200型：首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上，然后将样品台如抽屉般推入仪器内部；
②XDLM-PCB210和220：仪器配备了高精度、可编程的XY平台并带有弹出功能；激光点作为辅助定位，能帮助快速对准测量位置；
2、高分辨彩色摄像头，使得对准测量位置的过程更加准确、简便；
3、通过强大且界面友好的WINFTM®软件，可在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有 的相关信息的显示等；
4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。
| 项目 型号 | XDLM-PCB200
| XDLM-PCB210/220
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| 通用规格 | 设计用途 | 能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ，测量薄镀层和微小结构样品， 分析合金组分
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| 元素范围 | 从元素氯 (17) 到铀 (92)，最多可以同时测定24种元素 | ||||
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工作台
| 平台 | 固定式样品平台带有手动拉出功能 | 马达驱动可编程X/Y平台，带有自动弹出功能 | ||
| 可用样品平台面积（宽×深） | （600 x 600）mm ² 带扩展板时:（1200 x 900mm² | （600 x 600）mm² | |||
| X/Y平台移动距离 | / | 450mm x 300mm | |||
| X/Y平台移动速度 | / | 80mm/s | |||
| X/Y平台移动精度 | / | ≤0.01mm（单向） | |||
| 电器参数 | 电源要求 | AC220V 50Hz | |||
| 功耗 | 120W（不包括计算机） | ||||
| 保护等级 | IP40 | ||||
| 环境要求 | 使用温度 | 10℃-40℃ | |||
| 存储或运输时的温度 | 0℃-50℃ | ||||
| 空气相对湿度 | ≤95%RH，不结露 | ||||
| 设计单元 | 计算机 | Windows®-PC | |||
| 软件 | 标准：Fischer WinFTM® BASIC 可选：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER | ||||
| 尺寸规格 | 外部尺寸（宽×深×高） | 610mm×750mm×450mm | Xy样品台处于行程时： 1000mm×1265mm×470mm | ||
| 带扩展板时： 1200mm×1050mm×450mm | XY样品台处于初始状态时： 650mm×810mm×470mm | ||||
| 重量 | 约86KG | ||||
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