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CHUO 光學微細缺陷量測儀

CHUO 光學微細缺陷量測儀
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更新时间：2023-04-10 14:22:29浏览次数：223次

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产品简介
特性:光學解析度1.8um，高速檢測，提高產品良率

详情介绍

特性:
  • 光學解析度1.8um，高速檢測，提高產品良率。
  • 可自動量測、觸控面板、ITO、線寬缺陷，及其他金屬表面等各種細微缺陷檢測。
  • 可存取量測數據。
  • 可達客製化量測功能及需求。

特點:

檢測用途共三點

規格表：

若您對我司所代理之數位顯微鏡有興趣，或來信詢問

 

 

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