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详细介绍
配有多种参数。
评估型表面粗糙度测量仪同时配置
分析功能。
● 装置配备 FORMTRACEPAK 表面粗糙度 / 轮廓分析程序。
● 标准或低测力检出器 ( 4mN/0.75mN ) 的选择，无需考虑设备本体是否有装配倾斜装置。
● Z2 轴 ( 立柱 ) 的 700mm 型上市。
| 苏州伟创精密仪器有限公司 |
| 参考价 | 面议 |
更新时间：2022-11-29 14:12:04浏览次数：269
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