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详细介绍
MF系列光学测量显微镜采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。主要运用于录象磁头、大规模集成电路线宽以及其它精密零件的测试。广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。主要优点：工作台除作X、Y坐标的移动外，还可以作360度的旋转，是一种理想的固定场所小型精密测量仪器。加装影像测量装置，一种将将显微镜看到的实物图像通过数模转换，使其成像在显微镜自带的屏幕上或计算机上的显微镜设备。特别适用于制造业、精密零件以及不方便
三丰显微镜 观察、测量和处理系统化的显微镜阵容
MF 系列
176 系列 — 测量显微镜
• 可观察清晰无闪烁正像，且视场开阔。
• 测量精度在同类设备中(符合JIS B 7153标准)。
• 使用ML 系列，专门为MF 系列设计的高NA物镜(长工作距离型)。
• 照明装置(反射／透射) 可选用高亮度LED 灯泡或卤素灯泡。
• 利用可变孔径光阑(反射／透射) 可进行无衍射观察测量。
• 各类尺寸的标准工作台，达到400×200mm。
• 快速释放装置便于在测量工件大或测量工件数量多时快速移动工作台。
• 粗调／细调进给手柄作为标准配置安装在立柱两侧，便于精确聚焦与观察测量，不受用左手或右手习惯的影响。
• 高倍目镜观察，达2000X。
• 标准测量显微镜，配有种类繁多的可选附件，包括Vision Unit 影像装置与各种CCD数码相机
三丰显微镜技术规格
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