378 系列 — 半导体检测用显微镜

产品名称：378系列—半导体检测用显微镜：产品介绍FS-70378系列半导体检测用显微镜特点此光学系统最初是为的FS60型(后升级为FS70型)而开发的

产品名称：378 系列 — 半导体检测用显微镜

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产品介绍

FS-70
378 系列 — 半导体检测用显微镜
特点
• 此光学系统最初是为的 FS60 型 (后升
级为 FS70 型) 而开发的。它作为测量检测
半导体器件的显微镜是很理想的。
• FS70L 支持3 种YAG 激光波长(1064nm,
532nm, 355nm)， FS70L4 支持 2 种波长(532nm,
266nm)，可在半导体和液晶基板中使用激
光切割和薄膜技术。这就扩大了激光的
使用范围。然而，使用三丰量具对显微
镜的激光系统的性能和安全性，三丰公
司不负责任。我们推荐在选购激光发射
器时应仔细检查。
• FS70Z 的标准功能有：亮视场，微分干涉
对比 (DIC) 和偏振观测。FS70L 和FS70L4 不
支持 DIC。
使用内置式转换器使得长工作距离物镜
的操作很简单。
• 极易操作的设计：FS70 采用正像光学系统
(视场中的像与样品方向相同) 并用橡胶把
手加大微调手轮。