AXOMETRICS 偏光測定設備

特性：

• Axometrics偏光測定儀，為目前偏極化量測中速的測量系統。
• 快速測量快軸方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延遲（Retardance）、偏光（Polarization）。
• 線性/橢圓/圓形的偏極化測量
• 多波長Retardance頻譜的RO(400-800nm)
• 快速測量Biaxial Films Ro、Rth和 B。
• 具有旋轉／傾斜機構，於測量時旋轉角度可精確掌握。
• 無須裁切待測物（Sample)
• 操作容易的軟體介面
• 客製化測量模組組合
• 配合CCD影像系統及光學鏡頭，可測量各樣品中微觀區域內的各項參數

應用範圍：

• 多波長延遲片／相位差板（In Plate or Out of Plate）測量
• 偏光片（板）測量多層膜（Ro,Rth，B）
• 快軸方位角度測量（Fast Axis Orlentatlon)
• LCOS晶圓Retardance和電壓特性關係的測量
• 液晶（LCD）、LCOS Cell Gap的測量。
• 液晶（LCD) Pretlltangle 的測量
• 3D Film的測量。（FPR)
• 多面向的LCD的量測（PSVA Multi一Domain)

Poincare sphere 顯示可更清楚的了解光的偏極化狀態可量測出不同波長(400-800nm)下的相位差值波長的分散性。

Rth 值測量差距時具有可調控之校正機制，精密度高。

高速的測量可幫助各種補償膜的發展研究。