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详细介绍
产品名称：金相显微镜
产品型号： BX51M-IR
产品厂商：OLYMPUS
简单介绍：
BX51IR显微镜可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析，以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察。
金相显微镜的详细介绍：
奥林巴斯科研级正置系统显微镜 BX51/BX51M-IR
1、近红外外透射反射观察用显微镜
2、5X到10X红外镜头,像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段
3、晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSP bump观察适宜
主要特点：
1、UIS无限远校正光学系统，提供出色的图像质量
2、人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适
3、多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要
产品型号： BX51M-IR
产品厂商：OLYMPUS
简单介绍：
BX51IR显微镜可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析，以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察。
金相显微镜的详细介绍：
奥林巴斯科研级正置系统显微镜 BX51/BX51M-IR
1、近红外外透射反射观察用显微镜
2、5X到10X红外镜头,像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段
3、晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSP bump观察适宜
主要特点：
1、UIS无限远校正光学系统，提供出色的图像质量
2、人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适
3、多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要
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