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详细介绍
SP80集长测针的测触能力与超高精度的性能于一体，是诸多应用的扫描测头。SP80扫描测头
SP80轴套式安装扫描测头采用数字刻度和读数头技术，加上雷尼绍创新的分离光学测量原理，即使配用长测针也能够提供的扫描性能。
通过搭配长达1000mm，重500g的测针（包括不受平衡影响的星形配置），SP80可以测触工件较深部位。雷尼绍的M5测针用于配合SP80使用，以确保其达到性能。
系统主要优点：
使用能提供0.02μm分辨率的数字读数头，实现超高精度扫描
可配用长达1000mm，重500g（不平衡）的大直径/偏重测针
由于测头内的低悬浮质量，可实现快速动态响应
可重复测针交换，方便快速、灵活检测工件
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